|
|
Návrh vhodného etalonu délky pro nano-CT měřicí přístroj
Kožiol, Martin ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá návrhem tří etalonů délky, které poslouží pro zajištění metrologické návaznosti mezi přístroji Rigaku nano3DX, SIOS NMM-1, Zeiss UPMC Carat 850 a dalšími přístroji umístěnými na ÚVSSR VUT a CEITEC Brno. První část je zaměřena na teoretické seznámení se s pojmy úzce souvisejícími s problematikou zajišťování metrologické návaznosti. Kromě toho se tato část zabývá výpočetní tomografií a popisem jednotlivých přístrojů. V druhé části jsou řešeny návrhy, postup výroby a odzkoušení jednotlivých etalonů. Poslední část je věnována popisu zajištění kalibrace nejmenšího etalonu, tzv. Nano etalonu a výpočtu nejistoty měření jeho kalibrované délky. Ke konci práce jsou výstupy těchto činností zhodnoceny.
|
|
|
Determination of measurement uncertainty of a coordinate measuring machine in nanometrology
Potanko, Andrej ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
The diploma thesis deals with the determination of measurement uncertainty on coordinate measuring machines in the field of nanometrology. These are SIOS NMM 1 and Zeiss UPMC 850 Carat machines, which are used at the CMI workplace in Brno. In the theoretical part, the work is devoted to basic terminology in the field of measurement and general characteristics of coordinate measuring machines. The theoretical part concludes with a description of the devices used for measurement. In the practical part, experimental measurements are performed on both devices with subsequent identification and quantification of individual components of uncertainties affecting the measurement. The last part of the thesis is devoted to the overall evaluation of measurements on Zeiss and SIOS devices and their metrological comparison.
|
|
|
Návrh vhodného etalonu délky pro oblast nanometrologie na pracovištích ČMI Brno a CEITEC Brno
Češek, Jakub ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá návrhem vhodného etalonu délky pro oblast nanometrologie. Tento etalon délky bude sloužit pro metrologickou návaznost přístroje Rigaku nano3DX umístěným na pracovišti CEITEC Brno a přístroje SIOS NMM-1, který je umístěn na pracovišti ČMI Brno. První část je zaměřena na popis těchto měřicích přístrojů, analýze požadavků na jejich metrologickou návaznost a požadavkům na hmotný délkový etalon. Druhá část je věnována konkrétním možnostem návrhu etalonu, 3D tisku prototypu etalonu a ověření jeho rozměrové kompatibility. V závěru práce je provedeno vyhodnocení a volba vhodného návrhu etalonu.
|
|
|
Determination of measurement uncertainty of a coordinate measuring machine in nanometrology
Potanko, Andrej ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
The diploma thesis deals with the determination of measurement uncertainty on coordinate measuring machines in the field of nanometrology. These are SIOS NMM 1 and Zeiss UPMC 850 Carat machines, which are used at the CMI workplace in Brno. In the theoretical part, the work is devoted to basic terminology in the field of measurement and general characteristics of coordinate measuring machines. The theoretical part concludes with a description of the devices used for measurement. In the practical part, experimental measurements are performed on both devices with subsequent identification and quantification of individual components of uncertainties affecting the measurement. The last part of the thesis is devoted to the overall evaluation of measurements on Zeiss and SIOS devices and their metrological comparison.
|
|
|
Návrh vhodného etalonu délky pro nano-CT měřicí přístroj
Kožiol, Martin ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá návrhem tří etalonů délky, které poslouží pro zajištění metrologické návaznosti mezi přístroji Rigaku nano3DX, SIOS NMM-1, Zeiss UPMC Carat 850 a dalšími přístroji umístěnými na ÚVSSR VUT a CEITEC Brno. První část je zaměřena na teoretické seznámení se s pojmy úzce souvisejícími s problematikou zajišťování metrologické návaznosti. Kromě toho se tato část zabývá výpočetní tomografií a popisem jednotlivých přístrojů. V druhé části jsou řešeny návrhy, postup výroby a odzkoušení jednotlivých etalonů. Poslední část je věnována popisu zajištění kalibrace nejmenšího etalonu, tzv. Nano etalonu a výpočtu nejistoty měření jeho kalibrované délky. Ke konci práce jsou výstupy těchto činností zhodnoceny.
|
|
|
Návrh vhodného etalonu délky pro oblast nanometrologie na pracovištích ČMI Brno a CEITEC Brno
Češek, Jakub ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá návrhem vhodného etalonu délky pro oblast nanometrologie. Tento etalon délky bude sloužit pro metrologickou návaznost přístroje Rigaku nano3DX umístěným na pracovišti CEITEC Brno a přístroje SIOS NMM-1, který je umístěn na pracovišti ČMI Brno. První část je zaměřena na popis těchto měřicích přístrojů, analýze požadavků na jejich metrologickou návaznost a požadavkům na hmotný délkový etalon. Druhá část je věnována konkrétním možnostem návrhu etalonu, 3D tisku prototypu etalonu a ověření jeho rozměrové kompatibility. V závěru práce je provedeno vyhodnocení a volba vhodného návrhu etalonu.
|
host ::
RSS.